标准号：GB/T 4589.1-2006 有效

中文名称：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

英文名称：Semiconductor devices—Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits

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被代替标准

GB/T 4589.1-1989(全部代替)

代替标准

被采用标准

IEC 60747-10-1991(等同)

采用标准

引用标准

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修订记录

标准摘要

本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。 本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门

工业和信息化部（电子）

执行单位

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位

本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所(CESI)。

起草者

部分主要起草人:罗发明、陈裕昆、金毓铨。

简评

备注