标准号：GB/T 25185-2010 有效

中文名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告

英文名称：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction

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被代替标准

代替标准

被采用标准

ISO 19318-2004(等同)

采用标准

引用标准

GB/T 22571-2008(注日期引用) GB/T 22461-2008(注日期引用)

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修订记录

标准摘要

本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。

归口单位

全国微束分析标准化技术委员会

主管部门

国家标准化管理委员会

执行单位

全国微束分析标准化技术委员会

起草单位

本标准负责起草单位:北京师范大学分析测试中心。

起草者

标准主要起草人:吴正龙。

简评

备注