标准号：GB/T 4937.3-2012 有效

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

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被代替标准

代替标准

被采用标准

IEC 60749-3-2002(等同)

采用标准

引用标准

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修订记录

标准摘要

GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门

工业和信息化部（电子）

执行单位

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位

本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所。

起草者

部分主要起草人:陈海蓉、李丽霞、崔波。

简评

备注