标准号：GB/T 17473.1-2008 即将废止

中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of solids content

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被代替标准

GB/T 17473.1-1998(全部代替)

代替标准

GB/T 17473-2025(全部代替)

被采用标准

采用标准

引用标准

GB/T 8170(不注日期引用)

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修订记录

标准摘要

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。

归口单位

全国有色金属标准化技术委员会贵金属分会

主管部门

中国有色金属工业协会

执行单位

全国有色金属标准化技术委员会

起草单位

本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。

起草者

部分主要起草人:陈一、张骏、朱武勋。

简评

备注