标准号：YD/T 2342-2011 有效

中文名称：通信用光电子器件可靠性试验方法

英文名称：Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications

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被代替标准

代替标准

被采用标准

IEC 60068-2-2-2007(非等效) IEC 61000-4-2-2008(非等效)

采用标准

引用标准

GB/T 21194-2007(注日期引用) GB/T 19001-2008(注日期引用)

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修订记录

标准摘要

本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求，包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。本标准适用于通信用光电子器件，包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块。其它领域的光电子器件也可参照使用。

归口单位

主管部门

执行单位

起草单位

本标准起草单位：武汉邮电科学研究皖、中兴通讯股份有照公司、深圳新飞通光电子技术有限公司。

起草者

标准起草人：赵先明、杨电、宋梦洋、梁臣桓、武成宾、杨晓帆。

简评

备注