标准号：IEC 60747-1-1983 已废止

中文名称：半导体器件.分立器件.第1部分:总则

英文名称：Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 : General

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被代替标准

代替标准

IEC 60747-1-2006(全部代替)

被采用标准

DIN IEC 60747-1-1987(等同) GOST 20859.1-1989(等效) GOST 28624-1990(等效) GOST 29108-1991(等效) GOST 29106-1991(等效) GOST 29107-1991(等效) BS 6493-1.1-1984(等同) GOST 29210-1991(等效) GOST 29209-1991(等效)

采用标准

JIS C 5944-1996(修改) DIN IEC 60747-1-1987(等同) JIS C 5945-1996(修改) BS 6493-1.1-1984(等同) JIS C 7032-1993(非等效) NF C96-001-1984(等同) JIS C 5950-1997(修改)

引用标准

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修订记录

IEC 60747-1-1983am3

标准摘要

归口单位

主管部门

执行单位

起草单位

起草者

简评

备注