标准号：GB/T 17473.2-2008 即将废止

中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

英文名称：Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness

---

---

---

被代替标准

GB/T 17473.2-1998(全部代替)

代替标准

GB/T 17473-2025(全部代替)

被采用标准

采用标准

引用标准

GB/T 8170(不注日期引用)

---

修订记录

标准摘要

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。

归口单位

全国有色金属标准化技术委员会贵金属分会

主管部门

中国有色金属工业协会

执行单位

全国有色金属标准化技术委员会

起草单位

本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。

起草者

部分主要起草人:武新荣、罗云、陈伏生、李文琳、马晓峰、朱武勋、李晋。

简评

备注