标准号：IEC 60749-7-2011 有效

中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

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被代替标准

IEC 60749-7-2002(全部代替)

代替标准

被采用标准

采用标准

EN 60749-7-2011(等效)

引用标准

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修订记录

标准摘要

归口单位

主管部门

执行单位

起草单位

起草者

简评

备注