标准号:GB/T 15757-2002
有效
中文名称:产品几何量技术规范(GPS)表面缺陷 术语、定义及参数
英文名称:Geometrical product specifications(GPS) Surface imperfections--Terms.definitions and parameters
- 被代替标准
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GB/T 15757-1995(全部代替)
- 代替标准
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- 被采用标准
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ISO 8785-1998(等效)
- 采用标准
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- 引用标准
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- 修订记录
- 标准摘要
- 本标准规定了有关表面缺陷的术语,允许表面缺陷的程度及测量表面缺陷方法的技术规范等内容。 本标准适用于技术文件、技术图纸和科技出版物等。 本标准的定义不涉及表面粗糙度和表面波纹度。 本标准没有指出是否要进行表面缺陷的评定,这取决于具体的应用或表面的功能。 对于特殊的应用和制造工艺,在必要情况下可附加专用的术语和定义。这些术语和定义将在相关的标准中规定。 几种特殊表面缺陷将在其他标准中定义。
- 归口单位
- 全国产品几何技术规范标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
- 执行单位
- 全国产品几何技术规范标准化技术委员会
- 起草单位
- 本标准起草单位:中国机械科学研究院、时代集团公司、中国计量科学研究院、北京计量科学研究所、沈阳601所。
- 起草者
- 标准主要起草人:王欣玲、王忠滨、高思田、吴迅、王肇强、赵有祥。
- 简评
- 备注