标准号：GB/T 17473.6-1998 已废止

中文名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定

英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics--Determination of resolution

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被代替标准

代替标准

GB/T 17473.6-2008(全部代替)

被采用标准

采用标准

引用标准

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修订记录

标准摘要

归口单位

全国有色金属标准化技术委员会

主管部门

中国有色金属工业协会

执行单位

全国有色金属标准化技术委员会

起草单位

昆明贵金属研究所

起草者

简评

备注