标准号：GB/T 4937.13-2018 有效

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾

英文名称：Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 13: Salt atmosphere

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被代替标准

代替标准

被采用标准

IEC 60749-13-2002(等同)

采用标准

引用标准

IEC 60749-14(不注日期引用) IEC 60068-2-11(不注日期引用)

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修订记录

标准摘要

GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。 本试验是破坏性试验。 本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会。

主管部门

工业和信息化部（电子）

执行单位

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学微电子研究院、无锡必创传感科技有限公司。

起草者

张艳杰、彭浩、李树杰、岳振鹏、崔波、高金环、裴选、张天福、迟雷、张威、陈得民、周刚。

简评

备注