IEC/TR 61641-2008 封装的低压开关和控制装置.内部错误引起的电弧放电条件下的试验指南 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：IEC/TR 61641-2008 已废止

中文名称：封装的低压开关和控制装置.内部错误引起的电弧放电条件下的试验指南

英文名称：Enclosed low-voltage switchgear and controlgear assemblies - Guide for testing under conditions of arcing due to internal fault

标准组织

【IEC】国际电工委员会

CCS分类

【K31】低压配电电器

ICS分类

发布日期

2008-01-30

实施日期

2008-01-30

废止日期

2014-09-09

被代替标准: IEC/TR 61641-1996(全部代替)
代替标准: IEC/TR 61641-2014(全部代替)
被采用标准
采用标准
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注