SJ 1367-1978 电子元器件密封性试验方法 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：SJ 1367-1978 已废止

中文名称：电子元器件密封性试验方法

英文名称：

标准组织

【SJ】电子行业标准

CCS分类

【L04】基础标准与通用方法

ICS分类

发布日期

实施日期

1978-06-08

废止日期

被代替标准
代替标准: GB/T 2423.23-1982(全部代替)
被采用标准
采用标准
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注