IEC 60749-4-2017 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：IEC 60749-4-2017 有效

中文名称：

英文名称：Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

标准组织

【IEC】国际电工委员会

CCS分类

ICS分类

【31.080.01】半导体器件综合

发布日期

2017-03-01

实施日期

2017-03-01

废止日期

被代替标准
代替标准
被采用标准
采用标准: EN 60749-4-2017(等效)
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注