标准号：GB/T 4937.4-2012 有效

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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被代替标准

代替标准

被采用标准

IEC 60749-4-2002(等同)

采用标准

引用标准

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修订记录

标准摘要

GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门

工业和信息化部（电子）

执行单位

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位

本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所。

起草者

部分主要起草人:李丽霞、陈海蓉、崔波。

简评

备注