JIS K 0149-1-2008 微光束分析扫描电子显微镜校验图象放大率导则 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：JIS K 0149-1-2008 有效

中文名称：微光束分析扫描电子显微镜校验图象放大率导则

英文名称：Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

标准组织

【JSA】日本工业标准调查会

CCS分类

【N32】放大镜与显微镜

ICS分类

【37.020】光学设备

发布日期

2008-02-20

实施日期

2008-02-20

废止日期

被代替标准
代替标准
被采用标准: ISO 16700-2004(修改)
采用标准
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注