BS EN 60749-3-2017 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：BS EN 60749-3-2017 有效

中文名称：

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 3: External visual examination

标准组织

【BSI】英国标准学会

CCS分类

ICS分类

【31.080.01】半导体器件综合

发布日期

2017-11-30

实施日期

2017-11-30

废止日期

被代替标准: BS EN 60749-3-2002(全部代替)
代替标准
被采用标准
采用标准
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注