标准号：IEC 60749-20-2020 有效

中文名称：

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

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被代替标准

IEC 60749-20-2008(全部代替)

代替标准

被采用标准

采用标准

引用标准

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修订记录

标准摘要

归口单位

主管部门

执行单位

起草单位

起草者

简评

备注