标准号：GB/T 4937.12-2018 有效

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

英文名称：Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 12:Vibration,variable frequency

---

---

---

被代替标准

代替标准

被采用标准

IEC 60749-12-2002(等同)

采用标准

引用标准

GB/T 2423.10-2008(注日期引用)

---

修订记录

标准摘要

GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。 本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会。

主管部门

工业和信息化部（电子）

执行单位

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所。

起草者

迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰。

简评

备注