标准号：GB/T 25184-2010 有效

中文名称：X射线光电子能谱仪检定方法

英文名称：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers

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被代替标准

代替标准

被采用标准

采用标准

引用标准

GB/T 22571-2008(注日期引用) GB/T 19500-2004(注日期引用) ISO 19319(不注日期引用) GB/T 25185-2010(注日期引用) GB/T 21006-2007(注日期引用) ISO 24237(不注日期引用) ISO 15470-1999(不注日期引用) GB/T 20175-2006(注日期引用) GB/T 22461-2008(注日期引用) ISO 18116(不注日期引用) ISO 18516-2006(注日期引用) ISO 18118-2004(注日期引用)

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修订记录

标准摘要

本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。

归口单位

全国微束分析标准化技术委员会

主管部门

国家标准化管理委员会

执行单位

全国微束分析标准化技术委员会

起草单位

本标准负责起草单位:福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室。

起草者

标准主要起草人:王水菊、时海燕、丁训民。

简评

备注