EN 60749-5-2017 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：EN 60749-5-2017 有效

中文名称：

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

标准组织

【CENELEC】欧洲电工标准化委员会

CCS分类

ICS分类

【31.080.01】半导体器件综合

发布日期

2017-07-01

实施日期

2017-07-01

废止日期

被代替标准: EN 60749-5-2003(全部代替)
代替标准
被采用标准
采用标准
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注