EN 60749-5-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验. - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：EN 60749-5-2003 已废止

中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验.

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

标准组织

【CENELEC】欧洲电工标准化委员会

CCS分类

【L40】半导体分立器件综合

ICS分类

【31.080.01】半导体器件综合

发布日期

2003-03-13

实施日期

2003-12-01

废止日期

2017-07-01

被代替标准: EN 60749-1999(全部代替)
代替标准: EN 60749-5-2017(全部代替)
被采用标准: IEC 60749-5-2003(等同)
采用标准
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注