标准号：BS EN 60749-4-2017 有效

中文名称：

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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被代替标准

BS EN 60749-4-2002(全部代替)

代替标准

被采用标准

采用标准

引用标准

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修订记录

标准摘要

归口单位

主管部门

执行单位

起草单位

起草者

简评

备注