BS EN 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.稳态有毒热高度加速试验 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：BS EN 60749-4-2002 已废止

中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.稳态有毒热高度加速试验

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

标准组织

【BSI】英国标准学会

CCS分类

【L40】半导体分立器件综合

ICS分类

【31.080.01】半导体器件综合

发布日期

2002-09-10

实施日期

2002-09-10

废止日期

2017-11-30

被代替标准: BS EN 60749-1999(全部代替)
代替标准: BS EN 60749-4-2017(全部代替)
被采用标准: IEC 60749-12-2002(等同) EN 60749-12-2002(等同)
采用标准: IEC 60749-12-2002(等同)
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注