标准号：GB/T 5201-1994 已废止

中文名称：带电粒子半导体探测器测试方法

英文名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors

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被代替标准

GB/T 5201-1985(全部代替)

代替标准

GB/T 5201-2012(全部代替)

被采用标准

采用标准

引用标准

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修订记录

标准摘要

归口单位

全国核仪器仪表标准化技术委员会

主管部门

国家标准化管理委员会

执行单位

全国核仪器仪表标准化技术委员会

起草单位

本标准由北京核仪器厂负责起草。

起草者

标准主要起草人黄迺章、李献云、罗凤群。

简评

备注