标准号：GB/T 5201-2012 有效

中文名称：带电粒子半导体探测器测量方法

英文名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors

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被代替标准

GB/T 5201-1994(全部代替)

代替标准

被采用标准

IEC 60333-1993(非等效)

采用标准

引用标准

GB/T 10263-2006(注日期引用) GB/T 4960.6-2008(注日期引用) GB/T 13178-2008(注日期引用)

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修订记录

标准摘要

本标准规定了带电粒子半导体操测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验 方法。 本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体操测器。 全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。

归口单位

全国核仪器仪表标准化技术委员会

主管部门

国家标准化管理委员会

执行单位

全国核仪器仪表标准化技术委员会

起草单位

本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。

起草者

标准起草人:李志勇、王军。

简评

备注