标准号：GB/T 4937.1-2006 有效

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则

英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

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被代替标准

GB/T 4937-1995(部分代替)

代替标准

被采用标准

IEC 60749-1-2002(等同)

采用标准

引用标准

IEC 60050(所有部分)(不注日期引用) IEC 60748(所有部分)(不注日期引用) IEC 60747(*)(不注日期引用) IEC 60050(*)(不注日期引用) IEC 60747(所有部分)(不注日期引用) IEC 60748(*)(不注日期引用)

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修订记录

标准摘要

本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门

工业和信息化部（电子）

执行单位

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位

本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所。

起草者

部分主要起草人:陈海蓉、崔波。

简评

备注