GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：GB/T 4937-1995 已废止

中文名称：半导体器件机械和气候试验方法

英文名称：Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

标准组织

【GB】中国国家标准

CCS分类

【L40】半导体分立器件综合

ICS分类

【31.080】半导体器件

发布日期

1995-12-22

实施日期

1996-08-01

废止日期

2007-02-01

被代替标准: GB/T 4937-1985(全部代替)
代替标准: GB/T 4937.1-2006(部分代替) GB/T 4937.2-2006(部分代替)
被采用标准
采用标准
引用标准

修订记录: GB/T 4937-1995COR.1
标准摘要
归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门: 工业和信息化部（电子）
执行单位: 全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位: 上海市电子仪表计量测试所
起草者
简评
备注