标准号：GB/T 1551-1995 已废止

中文名称：硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法

英文名称：Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe

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被代替标准

代替标准

GB/T 1551-2009(全部代替)

被采用标准

采用标准

引用标准

GB 5256(不注日期引用) GB 1550(不注日期引用) GB/T 1552(不注日期引用)

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修订记录

标准摘要

归口单位

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门

国家标准化管理委员会

执行单位

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位

本标准由上海有色金属研究所负责起草。

起草者

标准主要起草人林敏敏、金胜祖、施海青。

简评

备注