标准号:GB/T 31470-2015
有效
中文名称:俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
英文名称:Standard practice for determination of the specimen area contributing to the detected signal in Auger electron spectrometers and some X-ray photoelectron spectrometers
- 被代替标准
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- 代替标准
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- 被采用标准
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- 采用标准
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- 引用标准
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SJ/T 10458-1993(注日期引用)
GB/T 22461-2008(注日期引用)
- 修订记录
- 标准摘要
- 本标准规定了俄歇电子能谱和部分类型的X射线光电子能谱检测信号对应样品区域的确定方法。
本标准适用于俄歇电子能谱仪和具有以下条件的X射线光电子能谱:人射X光束激发的样品区域大于分析器可检测到的样品区域;光电子从样品到分析器人口的过程中经过自由空间;装配有辅助电子枪可以产生一束可变能量的电子束照射到样品上。
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 起草单位
- 本标准起草单位:信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司、天津中环领先材料技术有限公司。
- 起草者
- 标准主要起草人:李雨辰、何秀坤、刘筠、刘兵、李翔。
- 简评
- 备注