IEC 60749-5-2003 半导体器件机械和气候试验方法第5部分：恒态温度湿度偏差寿命试验 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：IEC 60749-5-2003 已废止

中文名称：半导体器件机械和气候试验方法第5部分：恒态温度湿度偏差寿命试验

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

标准组织

【IEC】国际电工委员会

CCS分类

【L40】半导体分立器件综合

ICS分类

【31.080.01】半导体器件综合

发布日期

2003-01-17

实施日期

2003-01-17

废止日期

被代替标准
代替标准
被采用标准
采用标准: EN 60749-5-2003(等同)
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注