标准号：IEC 60749-11-2002 有效

中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

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被代替标准

代替标准

被采用标准

EN 60749-11-2002(等同) BS EN 60749-11-2002(等同)

采用标准

BS EN 60749-11-2002(等同) GB/T 4937.11-2018(等同) EN 60749-11-2002(等同)

引用标准

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修订记录

IEC 60749-11-2002COR.1:2003 IEC 60749-11-2002COR.2:2003

标准摘要

归口单位

主管部门

执行单位

起草单位

起草者

简评

备注