DIN EN 60749-2002 半导体器件.机械和气候试验方法 - 扬州市先进制造业标准信息服务平台

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标准号：DIN EN 60749-2002 有效

中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001

标准组织

【DIN】德国标准化学会

CCS分类

【L40】半导体分立器件综合

ICS分类

【31.080.01】半导体器件综合

发布日期

2002-09-01

实施日期

2002-09-01

废止日期

被代替标准: DIN EN 60749-2001(全部代替)
代替标准
被采用标准: IEC 60749-1996(等同) EN 60749-1999(等同)
采用标准: IEC 60749-1996(等同) IEC 60749-2002(等同)
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注