标准号：EN 60749-1999 已废止

中文名称：半导体装置.机械和气候试验方法

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

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被代替标准

代替标准

EN 60749-10-2002(全部代替) EN 60749-13-2002(全部代替) EN 60749-9-2002(全部代替) EN 60749-3-2002(全部代替) EN 60749-21-2005(全部代替) EN 60749-11-2002(全部代替) EN 60749-32-2003(全部代替) EN 60749-8-2003(全部代替) EN 60749-2-2002(全部代替) EN 60749-31-2003(全部代替) EN 60749-14-2003(全部代替) EN 60749-5-2003(全部代替) EN 60749-7-2002(全部代替) EN 60749-12-2002(全部代替) EN 60749-25-2003(全部代替) EN 60749-15-2003(全部代替) EN 60749-19-2003(全部代替) EN 60749-6-2002(全部代替) EN 60749-36-2003(全部代替) EN 60749-4-2002(部分代替) EN 60749-20-2003(全部代替) EN 60749-1-2003(全部代替) EN 60749-22-2003(全部代替)

被采用标准

IEC 60749-1996(等同)

采用标准

DIN EN 60749-2001(等同) DIN EN 60749-2002(等同) IEC 60749-2002(等同) IEC 60749-1996(等同)

引用标准

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修订记录

EN 60749-1999A1:2000 EN 60749-1999A2:2001

标准摘要

归口单位

主管部门

执行单位

起草单位

起草者

简评

备注