标准号：IEC 60749-14-2003 有效

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：端接牢固度（引线牢固性）

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

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被代替标准

代替标准

被采用标准

采用标准

EN 60749-14-2003(等同) GB/T 4937.14-2018(等同)

引用标准

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修订记录

标准摘要

归口单位

主管部门

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起草者

简评

备注