标准详情

标准号:EN 60749-14-2003 有效

中文名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第14部分:终端装置的坚固性(引线牢固性.)

英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)


标准组织

【CENELEC】 欧洲电工标准化委员会

CCS分类

【L40】 半导体分立器件综合

ICS分类

【31.080.01】 半导体器件综合

发布日期

2003-10-17

实施日期

2004-07-01

废止日期


被代替标准
EN 60749-1999(全部代替)
代替标准
被采用标准
IEC 60749-14-2003(等同)
采用标准
引用标准

修订记录
标准摘要
归口单位
主管部门
执行单位
起草单位
起草者
简评
备注